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简智仪器领跑拉曼快检领域 SERS 增强技术发布

简智仪器核心团队成员来自于中科院上海光学精密机械研究所、南京大学和东南大学,在激光快检领域具有成熟领先的技术基础,在光学检测领域和航天级产品研发上保持技术优势,尤其在拉曼快检技术方面已拥有十余年研发制造经验,也一直有专门的团队从事SERS技术的研发。在本次新品发布会上,简智仪器将发布公司第一款产品级的SERS增强芯片 该款SERS增强芯片基于表面等离子体共振技术,可用于食品安全、生物医药、毒品爆炸物等众多领域的痕量检测。

 

 拉曼增强芯片——灵敏度高、重现性强、适用性广、识别性好

在增强芯片核心区域上,我们制作了纳米级精度的有序点阵结构,使光散射得到光子级别的均匀控制,从而让待测分子的拉曼特征信号得到最大程度的展现而不失真。为了增强这款芯片的普适性,让它对不同类型、不同状态下的分子都能做到精准捕捉、精确呈现,我们对阵列的构型、点阵间隙距离参数等都进行了精心的设计,并用最为先进的组装技术原位实现。

总得来讲,可以用以下四点概括这款芯片的应用性能:

1.灵敏度高:对于绝大多数分子,这款芯片的增强灵敏度达到5个数量级以上,可以做到痕量检测。

2.重现性强:芯片的结构和先进的工艺技术使得它在检测中表现出高度稳定性和可重复性,批间测试差异小。

3.适用性广:不同分子可以在点阵微结构的不同作用部位得到信号增强,解决不同样品的检测需求,极大地提高了检测的便捷性。

4.识别性好:由于光子级别的散射控制,拉曼特征信号可以被准确呈现,使待测物可以被精准地识别出来,给检测带来便利。

 

 

   此外,为配合相关检测技术,简智仪器也同时发布了新的表面增强SERS试剂 ,这是经改进后的第3代试剂,包含6种常规型号,其中4种金胶,2种银胶,具有适用范围广、高稳定性及特异性等特点,适用于食品安全、生物医药、物质表征等领域。

  

融合创新 智鉴未来——现场快检技术发展高峰论坛暨2019简智新品发布会” 年初在南京成功召开,本次论坛在南京大学、中科院上海光学精密机械研究所、江苏警官学院、南京银行、通服通讯等单位指导下,由光学快检仪器制造商南京简智仪器设备有限公司主办。

作为本次论坛主办单位的南京简智仪器设备有限公司,还邀请到“神光Ⅲ”总体技术组总工程师、中国工程院范滇元院士对快检行业做深度解读,对快检技术应用前景进行展望。此外,还邀请江苏警官学院反爆炸研究中心主任、孙光教授,江苏省食品药品监督检验研究院食品室徐春祥主任,以及中科院上海光学精密机械研究所科技考古中心李青会研究员等多位行业内知名专家、学者并发布相关技术专题报告,并希望借由本次现场快检技术发展高峰论坛,鼓励并支持更多的行业伙伴在快检领域持续创新,为快检产业的发展添砖加瓦,为中国的发展贡献一份力量。